MNF | Publications
- Quantitative SIMS Depth Distribution of Nitrogen in Nitrided Oxide at the SiO2/Si Interface; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; G., Ferroni; C., Savoia; Anderle, Mariano; 1998
- Numerical study of the low-frequency atomic dynamics in a Lennard-Jones glass; M., Sampoli; P., Benassi; Dell'Anna, Rossana; V., Mazzacurati; G., Ruocco; PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B; Vol. 77>; N. 2; 1998; pp. 473-484
- High frequency sound waves in vitreous silica; Dell'Anna, Rossana; G., Ruocco; M., Sampoli; G., Viliani; PHYSICAL REVIEW LETTERS; Vol. 80>; N. 6; 1998; pp. 1236-1239
- First results on double-sided AC-coupled Si strip detectors; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; N., Carmel Barnea; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Giorgio Umberto, Pignatel; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; MIDEM’98 (09/1998, Rogavska Slatina, Slovenia); 1998; pp. 205-210
- Feasibility study on fabrication of piezoresistive pressure sensors using silicon micromachining technology; Sebastiano, Brida; Ferrario, Lorenza; Giacomozzi, Flavio; Gregori, Paolo; Guarnieri, Vittorio; Margesin, Benno; F., Merz; G., Verzellesi; Zen, Mario; Terza Conferenza nazionale AISEM-Sensori e Microsistemi (11/02/1998 - 13/02/1998, Genova, Italy); 1998; pp. 6
- Dopant Redistribution Analysis in RiSi2/Si Systems by SIMS; M., Sbetti; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; S. a., Beccara; Anderle, Mariano; 1998
- Development of a Detector-Compatible JFET Technology on High-Resistivity Silicon; Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; M., Pignatel; G., Verzellesi; Luciano, Bosisio; Ferrario, Lorenza; Zen, Mario; Soncini, Giovanni; NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT; Vol. 409>; 1998; pp. 346-350
- Design and optimisation of an npn silicon bipolar phototransistor for optical position encoders; Dalla Betta, Gian Franco; Giorgio Umberto, Pignatel; G., Verzellesi; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Ferrario, Lorenza; Zorzi, Nicola; Maglione, Alfredo; MICROELECTRONICS JOURNAL; Vol. 29>; N. 1-2; 1998; pp. 49-58
- Combined Transmission Electron Microscopy and Cathodoluminecence Studies of Degradation in Electron-Beam-Pumped Zn1-Xcdxse/Znse Blue-Green Lasers; J. M., Bonard; J. D., Garniere; Vanzetti, Lia Emanuela; J. J., Paggel; L., Sorba; A., Franciosi; D., Hervé; E., Molva; 1998
- Characterization of RTP Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano; 1998
- Characterization of Functional Films on Solid Substrates by Tof-Sims; Canteri, Roberto; Malacarne, Carla; A., Rigo; F., Vianello; L., Zennaro; M., Scarpa; Anderle, Mariano; 1998; pp. 497-500
- Characterisation of RTA Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano; 1998