Publications | CRS

A Test Chip for the Development of Pin-Type Silicon Radiation Detectors; Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; A., Fazzi; Soncini, Giovanni; 1996; pp. 231-235
Smart Vision Chips in CCD and CCD/CMOS Technologies; Soncini, Giovanni; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Gottardi, Massimo; Zen, Mario; 1995; pp. 49-54
Proposal for a Simplified CMOS VLSI Fabrication Sequence; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; Digest of the `IEE Colloquium on Improving the efficiency of IC manufacturing technology` (12/04/1995 - 13/04/1995, London, UK); 1995; pp. 3-3
On the choice of the optimum silicon substrate for CCD/CMOS technology; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; Proceedings of the 4th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology (24/10/1995 - 28/10/1995, Beijing, China); 1995; pp. 176-178
N-Channel JFET for On-Chip Read-Out Electronics of Radiation Detectors; Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; Boscardin, Maurizio; S., Amon; 1995; pp. 207-213
DW-LOCOS: a convenient VLSI isolation technique; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY; Vol. 10>; N. 12; 1995; pp. 1700-1705
An efficient method to predict drain current dispersion in MOS transistors from technological parameters fluctuations; M., Conti; S., Orcioni; C., Turchetti; Bellutti, Pierluigi; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; Soncini, Giovanni; IEEE International Conference on Microelectronics Test Structures ICMTS 95 (03/1995, Nara, Japan); Vol. 8>; 1995; pp. 209-214
A Low Leakage Process for Silicon Radiation Detectors; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA; 1995; pp. 52-54
Uso dell'RF cleaning per la riduzione della resistenza dei contatti intermetal in strutture a doppio livello di metallizzazione; Giacomozzi, Flavio; Boscardin, Maurizio; 1994; pp. 15
Project MInOSS: Results of Spectral Response Measurements on the Photodiodes; Collini, Amos; Zorzi, Nicola; 1994
Progetto bioelettronica VLSI specifiche relative ai fotosensori elementari CCD; Soncini, Giovanni; Collini, Amos; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; 1994
Intrinsic Gettering in a CCD/CMOS Process; Bellutti, Pierluigi; R., Bovo; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; Symposium on High Purity Silicon III (09/10/1994 - 14/10/1994, Miami, USA); 1994; pp. 634-635